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一般来说，时钟频率跑的越快，则CPU每秒所能完成的运算次数就越多，性能自然更好，随着时钟频率的增加，CPU就会变得越来越热，这是CPU内部CMOS管耗散功率加大的体现，过高的温度会影响系统的运行，所以有必要采取措施来“监控”CPU的温度，把它限制在一定温度范围内，以确保CPU的可靠运行。由于二极管工艺的特殊性，我们可以利用二极管的伏安特性来测量CPU的温度，它的伏安特性如下图：众所周知，将PN结用外壳封装起来，并加上电极引线就构成了半导体二极管，简称为二极管。
但一般有哪些行之有效的降低纹波噪声的对策呢？下面我们抛砖引玉，简单讨论常用的八个方法。电源PCB走线和布局反馈线路应避磁性元件、关管及功率二极管。输出滤波电容放置及走线对纹波噪声至关重要，如所示，传统设计中由于到达每个电容的阻抗不一样，所以高频电流在三个电容中分配不均匀，设计中可以看出每个回路长度相当即高频电流会均匀分配到每个电容中。如果PCB是多层板，可以选择和主电流回路层 近一层覆地，覆地可以有效的解决噪声问题，注意，尽量保证覆地的完整性。
检测器的发展经历了圆形，半圆形和扇形几个阶段。是否使用完全的米氏理论因为米氏光散理论非常复杂，数据量大，所以有些厂家忽略颗粒本身折光和吸收等光学性质，采用近似的米氏理论，造成适用范围受限制，漏检几率增大等问题。准确性和重复性指标越高越好。采用NIST标准粒子检测。稳定性仪器稳定性包括光路的稳定性和分散系统的稳定性和周围环境的影响。一般来讲选用气体激光器，使用光学，有助于光路的稳定。内部发热部件（如50瓦的钨灯）将影响光路周围环境。
对链路层的解析就能得到节点ID号。若对一个“未加密”CAN总线链路层的解析，使用CAN总线接口卡（也称CAN盒）即可。这类工具能将CAN通讯转换为USPCI等通信方式，一般配合电脑使用。若要对CAN总线的分析，则需要专业的总线分析仪。CANScope是集CAN节点测试与标定、CAN总线故障诊断与解决的综合仪器。CAN总线抓包工具及方法多路CAN卡的应用以上提到的总线协议分析是在总线节点少、节点ID已知的前提下进行的。
一个捕获周期包括采样时间和死区时间，模拟信号通过ADC采样量化变转为数字信号同时存储，整个采样存储过程的时间称为采样时间。示波器必须对存储的数据进行测量运算显示等，才能始下一次的采样，这段时间称为死区时间。死区时间内，示波器并没有进行波形采集。一个捕获周期完成就会进入下一个捕获周期。捕获周期的倒数就是波形刷新率，如.1中所示，波形刷新率=1/(Tacq+Tdeat)。.1示波器采样过程示意图影响波形刷新率的因素有哪些?采样时间和死区时间如.1中所示，波形刷新率为Tacq(采样时间)和Tdeat(死区时间)的倒数，其中采样时间由示波器屏幕的采样窗格决定，用水平时基档位乘以水平方向格数，当水平时基确定后，采样时间就会固定。
升温速率的影响和选择升温速率不仅影响峰温的位置，而且影响峰面积的大小，一般来说，在较快的升温速率下峰面积变大，峰变尖锐。但是快的升温速率使试样偏离平衡条件的程度也大，因而易使基线漂移。更主要的可能导致相邻两个峰重叠，分辨力下降。较慢的升温速率，基线漂移小，使体系接近平衡条件，得到宽而浅的峰，也能使相邻两峰更好地分离，因而分辨力高。但测定时间，需要仪器的灵敏度高。一般情况下选择8度min-1～12度min-1为宜。
当前电机测试方法随着电机行业的飞速发展，电机测试项目越来越多，测功机的功能也随之丰富起来，电机行业当前需要对电机与驱动器进行完整的测试与性能分析，电机性能分析，驱动器分析以及对控制特性瞬态波形与控制响应的分析，传统的测功机是无法到的，电机测试可以分为两大类，即工厂试验和研发试验，为电机行业测试的新需求。电机行业测试新需求利用PA功率分析仪，可对电机的输入电参数进行高精度测量;配合电机传感器，PA功率分析仪可对电机的输出机械特性参数进行测量，并求出其机械功率大小;lPA功率分析仪还可矢量图、谐波、周期分析等特色功能，分析电机的性能特性。
