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“过去，研究人员主要使用间接测量，这种方法通过对极化进行测量，并将极化测量值作为温度和电压的函数推导得出电热效应，而不是实际的温度测量结果，”RomainFaye说。“然而，间接测量并不总是能够得出正确的解释。我们的团队一直在寻找更有效的直接温度测量方法。”直接测量温度变化 常用的方法是使用热电偶和红外热像仪。热电偶是测量与温度变化相关的电压变化的电子设备，而红外热像仪则测量与温度变化相关的红外辐射变化。
磁电流互感器电流互感器（）有三个突出优点：与线电压隔离，无损测量电流，大信号电压能很好地抵御噪声。这种间接测量电流的方法要求用到变化的电流，交流电，瞬变电流或关式直流电，来产生一个磁耦合到次级绕组里的变化磁场。次级测量电压可以根据在初级和次级绕组间的匝数比实现缩放。这种测量方法被认为是“无损的”，因为电路电流通过铜绕组时的电阻损耗非常小。如所示，由于负载电阻、芯损，以及初级和次级直流电阻的存在，互感器的损耗会导致失去一小部分能量。
当选取的谐振回路器件满足振荡器起振条件时振荡器始工作，VCO内的有源器件等效构成的负电阻部分所的能量能够满足谐振回路所消耗的能量则振荡电路的振荡条件能够得以维持，VCO能够正常工作。然而，VCO实际的工作状态绝非理想状态，并不是设计时所定的终端连接理想的50欧姆负载，因此其终端负载条件的变化会导致VCO出现输出振荡频率发生变化的非线性现象，这就是频率牵引，其表征参数为频率牵引系数。从可以看出，从VCO输出看去的阻抗变化会引起VCO的有源器件结上直流电压的变化，也就是说，VCO输出反射回来的信号功率能引起晶体管漏电流和偏置点的波动，导致该双极型晶体管集电极与基极之间的电压（Vcb）发生变化，影响集电极与基极之间的电容（Ccb），从而通过影响整个回路的谐振状态和条件导致振荡频率和相位噪声的改变。
在实际应用中对无线模块带宽影响较大的因素有LNA输入阻抗、PA输出阻抗、滤波器的阻抗以及天线阻抗。前两者用户只能依照原厂给出的参数去匹配，而天线的阻抗则是根据实际应用场景去挑选对应的型号，所以滤波器的阻抗匹配才是电路设计的关键。我们都知道传输功率在阻抗匹配时可以才可以到达，但在实际设计中往往只能达到某个频点的阻抗匹配，这是不符合工程应用的。因为相比于在某一个频点传输功率的化，一个频段范围内均衡的功率传输才是更重要的。
1×、10×这些名称的由来，是因为之前的示波器没有自动识别探头衰减系数和自动调节的能力，所以需要通过1×、10×这些名称来提醒测试者记得要把测量出来的结果乘以相应的倍数。带宽带宽也同样是一个探头必备的参数，指的是探头导致信号衰减-3dB情况下的频率点。如下图所示：如100MHz探头就有100MHz带宽，500MHz探头就有500MHz带宽。一些探头，还会有一个低频的带宽频率，比如一些AC探头，不能传递DC信号，它在低频段会有一个带宽参数。
LED日光灯电源发热到一定程度会导致烧坏，关于这个问题，也见到过有人在行业论坛发过贴讨论过。本文将从芯片发热、功率管发热、工作频率降频、电感或者变压器的选择、LED电流大小等方面讨论LED日光灯电源发热烧坏MOS管技术。芯片发热本次内容主要针对内置电源调制器的高压驱动芯片。如芯片消耗的电流为2mA，300V的电压加在芯片上面，芯片的功耗为0.6W，当然会引起芯片的发热。驱动芯片的电流来自于驱动功率MOS管的消耗，简单的计算公式为I=cvf（考虑充电的电阻效益，实际I=2cvf，其中c为功率MOS管的cgs电容，v为功率管导通时的gate电压，所以为了降低芯片的功耗，必须想法降低v和f.如果v和f不能改变，那么请想法将芯片的功耗分到芯片外的器件，注意不要引入额外的功耗。
分别使用SpectrumView和传统的FFT(Math功能)测试该信号的频谱，通过对比可以看出，由于时域捕获时间较短，导致传统FFT频谱的分辨率非常低。相反，SpectrumView的频谱测试结果非常好，不仅具有高分辨率，而且底噪也非常低，可以清晰地观测信号本身及其谐波和杂散。与此同时，由于水平时基设置得较小，还可以观测到时域波形的细节信息。.谐波、杂散测试：时域参数及频谱测试鉴于SpectrumView的这些优势，结合示波器其它功能，还可以对射频脉冲信号进行诊断测试，包括时域包络参数及信号频谱等。
